散射型扫描近场光学显微镜(s-SNOM)
      散射型扫描近场光学显微镜(s-SNOM)将光学天线技术与扫描探针技术有机结合,利用镀铂AFM探针的天线效应在探针尖端附近产生高度局域化的强光场。由于该局域强场与样品发生近场相互作用,远场测量得到的散射信号就反应了样品该区域的光学特性。测量时AFM探针工作在轻敲模式,随着针尖的上下振动,样品被测区域中信号的强度也发生周期性变化,因此对于远场散射信号也有一个周期性调制,而针尖和样品其他区域的散射光则几乎不被调制,因此很容易利用锁相放大技术将这些背景信号从探测信号中滤除。通过探针扫描样品表面,可以同时得到样品表面形貌图像和近场光学图像。其成像分辨率仅由针尖的几何尺寸决定,典型值为20 nm.
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